Product Information
제품 정보
- 본 매니퓰레이터 시리즈는 특정 ATE 테스트 헤드와 Wafer Prober 조합에 최적화되도록 설계되었습니다.
- 협소한 작업 바닥 면적, 낮은 층고, 또는 주변 장비와의 간섭 등 까다로운 설비 환경에서도 고객의 고유한 테스트 요구사항을 완벽하게 충족합니다.
- 특히 PDT 스타일은 범용 매니퓰레이터 수준의 기능을 제공하면서도 설치 면적을 획기적으로 줄였으며, 이를 더욱 발전시킨 HK 모델은 업계 최고 수준의 중량급 테스트 헤드까지 안정적으로 지지합니다. 또한, 힌지(PS) 스타일은 정밀한 독립 수직(Z축) 구동 기능을 갖추어 힌지 회전 전후의 테스트 헤드 탈착 공정을 안전하고 정확하게 수행합니다.