AXP 3.0 THERMAL WARPAGE SYSTEM
375mm 대형 시료를 단 2초 만에 측정하며, 머리카락보다 훨씬 얇은 0.5μm의 미세한 굴곡까지 잡아냅니다.
Akrometrix 전용 소프트웨어를 사용해 측정부터 데이터 분석까지 한 번에 관리합니다.
영하 55°C 저온 테스트 가능
재료 열팽창(CTE) 정밀 분석 가능
DFP2 모듈로 해상도 강화 가능