제품

AXP 3.0 THERMAL WARPAGE SYSTEM

Product Information

제품 정보

  • TherMoire AXP3.0 측정 장비는 Patented Technology인 Phase-stepping analysis로서 Warpage가 발생한 부위를 Characterize화 하여 이에 대한 Warpage를 측정하는 장비입니다.
  • 또한 Shadow moiré 기술을 기반으로 여기에 Time-temperature Profiling를 접목하여 사용자가 온도에 따른 측정 Target Device의 Warpage를 실시간으로 원하는 온도에서 측정할 수 있도록 개발된 장비입니다.
Product Features

제품 특징

  • 압도적인 속도와 정밀도

    375mm 대형 시료를 단 2초 만에 측정하며, 머리카락보다 훨씬 얇은 0.5μm의 미세한 굴곡까지 잡아냅니다.

  • 강력한 분석 소프트웨어

    Akrometrix 전용 소프트웨어를 사용해 측정부터 데이터 분석까지 한 번에 관리합니다.

  • 다양한 맞춤형 옵션

    영하 55°C 저온 테스트 가능

    재료 열팽창(CTE) 정밀 분석 가능

    DFP2 모듈로 해상도 강화 가능